inovel - innovative elektronik

2007

im November 2007 - 1. inovel Technologietag

Am 30.11.2007 hatte inovel zum 1. Technologietag nach Friedrichshafen eingeladen. Es wurde die neue Teststrategie, bei der Elemente des Funktionstests in einen Flying-Probe-Tester von Takaya integriert wurden, vorgestellt.
Außerdem informierte Dr. Ing. Thomas Ahrens, Fraunhofer ISIT, über Möglichkeiten, bereits beim Design Einfluss auf die Zuverlässigkeit von Baugruppen zu nehmen.

Mit 70 Gästen war die Veranstaltung komplett ausgebucht und fand großen Anklang.

im Mai 2007 - Wir stellen aus

Wir stellen in Halle 10 Stand 15 auf der Intertech in Dornbirn vom 03.05.2007 – 05.05.2007 unsere neuesten Produkte vor.

im Februar 2007 - Flying-Probe Incircuit-Tester von Takaya

Die neueste Testergeneration der Serie 9411 von Takaya besticht durch folgende Vorteile:
 

  • Adapterloses Testen, dadurch geringe Initialisierungskosten und hohe Testabdeckung
  • Test ohne "design for testability" bei kleinsten Strukturen möglich
  • Automatische Programmerstellung aus den CAD-Daten
  • Optische Tests durch integriertes Kamerasystem möglich
  • Incircuit-Programmierung während des Testablaufs
  • Kombination mit Funktionstest möglich
  • Kombination mit Boundary-Scan möglich
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